Eureka2_1333MHz

Features

  • Memory Tester für DDR, DDR2 und DDR3 Tests mit sehr hoher Geschwindigkeit
  • Entwickelt insbesondere für High-Volume-Speicher Distributoren, Speichermodul-Hersteller, DRAM Test Labore und PC-Hersteller
  • Optionale Adapter für DDR, DDR2, DDR3 und künftige Speicher (NAND Flash, NOR Flash, MCPs)
  • Unterstützt SDRAM DIMM-Module bis max. 1400 MHz Datenrate
  • DC-parametrischer/Leakage Test wird standardmäßig für alle DDR, DDR2 und DDR3 Module angeboten
  • Integrierter SPD (Serial Presence Detect) Programmer
  • Diverse weitere Testfunktionen wie z.B. Wartezeit für Chip-Erwärmung, Spannungs Bouncing, Loop-Test, verschiedene einstellbare Timing-Parameter, änderbarer Refresh-Modus und -Zyklus, etc.

weitere Informationen

Eureka2 Memory Tester:
Die nächste Generation von Eureka Memory Testern ist in der Lage DDR, DDR2 und DDR3 in sehr hoher  Geschwindigkeit zu testen. Der Eureka2 ist die vierte Generation von Bench-Top DIMM / SODIMM Memory Testern insbesondere für High-Volume-Speicher Distributoren, Speichermodul-Hersteller, DRAM Test Labore und PC-Hersteller.
Mit fortschrittlicher Technik und state-of-the-art Technologie wurde das Eureka2 Speichertestsystem entwickelt, um den Industrieteststandard für die Zukunft zu setzen. R&D Ingenieure, QA/QC Ingenieure und die Modulhersteller im Blick, wurde die robuste Konstruktion des Eureka2 entwickelt, um den Testanforderungen von hohen Stückzahlen gerecht zu werden.
Der Eureka2 Advanced Memory Tester unterstützt DDR, DDR2 und DDR3-Speicher durch einfachen Tausch der optionalen Adapter. Zukünftige Speicher wie Nand Flash, NOR-Flash und MCPs werden künftig auch auf dem Eureka2 Tester angeboten.
Mit der neuen DDR3 Testlösung unterstützt der Eureka2 DDR3 SDRAM DIMM-Module bis max. 1400 MHz Datenrate. Der DC-parametrische/Leakage Test wird standardmäßig für alle DDR, DDR2 und DDR3 Module angeboten.

Der Eureka2 ist der vielseitigste und leistungsfähigste Memory Tester für anspruchsvolle Testanwendungen.

Erweiterte Test Algorithmen:
Der Eureka2 führt eine schnelle Funktionsprüfung durch um sicherzustellen, dass das Modul in der Systemumgebung funktioniert. Mehrere anwenderdefinierte Testmuster können verwendet werden, um Kurzschlüsse und Unterbrechungen zu erkennen. Umfangreiche Test-Zyklen erkennen Ausfälle, darunter Einzel-Zell-Versagen, cross-Zell-Kontamination, intermittierende Fehler sowie Timing- und Noise-bezogene Fehler.

DC-Parameter Test:
Der Leakage Test wird als Standard-Feature angeboten und wird für Halbleiter Leakage Eigenschaftsprüfung verwendet. Der Eureka2 Test erkennt auch Leckströme, die zu Frühausfällen bei allen Arten von DRAM-Chips führen können.

SPD Programmierung:
Der Tester hat einen integrierten SPD (Serial Presence Detect) Programmer, der Programmierung und Überprüfung der SPD Inhalte während des Modultests in einem Vorgang durchführt.

Erweiterte Features:
Diverse weitere Testfunktionen sind verfügbar. Dies sind z.B. Wartezeit bis zur Chip-Erwärmung, Spannungs Bouncing, Loop-Test, verschiedene einstellbare Timing-Parameter, änderbarer Refresh-Modus und -Zyklus, Refresh Test, 8 ICC-Messungen, sowie Shmoo Plot und Error Capture Capabilities. Der Eureka2 unterstützt auch gepufferte oder ungepufferte Module mit Parity und ECC-Bits.

Einfach zu bedienen:
Das Tischgerät für den DIMM / SODIMM Speichertest wird allen Anforderungen gerecht. Für die Tests von hohen Stückzahlen ist es die ideale Lösung, wenn der Eureka2 in Verbindung mit dem neuen CST RoboFlex-1 oder dem RoboFlex-2 Automatic DIMM / SODIMM Handler eingesetzt wird. Im Bürobereich schließen Sie ihn einfach an die Spannungsversorgung an um DIMM / SODIMM Module zu testen. In allen Fällen kann der Eureka2 zur Steuerung oder zum Firmware Update über USB an einen Computer angeschlossen werden.

Produktdatenblätter: