SP3000_DDR3_1700m_1

Features

  • Memory Tester mit sehr einfacher Bedienung
  • Testadapter für DRAM, SDRAM, DDR, DDR2 und DDR3 Memory Module
  • Sekundenschneller Test auf Fertigungsfehler (offene Verbindungen und Kurzschlüsse)
  • SPD (Serial Presence Data) Programmierung
  • Kompletter Funktionstest innerhalb kürzester Zeit
  • Loop Funktion für Dauertests

weitere Informationen

Test Algorithmen:
Zwei Arten von Test Algorithmen wurden entwickelt um die Tests zuverlässig durchzuführen. Die Walk Data und Walk Address Testmuster wurden für superschnelle Produktionstests geschrieben. Sie erkennen offene Lötstellen und Kurzschlüsse innerhalb von Sekunden. Die Marching- und Checkerboard-Test Algorithmen führen extrem gründliche Speicherzellentests durch. Sie prüfen, ob Störungen durch fehlerhafte Lötstellen, Cross-Zellkontamination, intermittierende Ausfälle sowie Timing- und Noise-bezogene Fehler verursacht werden. CST-Ingenieure haben mehr Testmuster für die Erfassung von Zellproblemen für DDR3, DDR2, DDR1 und SDRAM hinzugefügt, wie z. B. Mat-S, March Y, March X, March C und Moving Inversion Muster, um Funktionsstörungen an den aktuellsten DRAMs zu erkennen. Der SP3000-Tester bietet auch die Möglichkeit das EEPROM des Moduls {Serial Presence Detect (SPD)} zu testen und zu programmieren.

Erweiterte Features:
Einige Funktionen sind für die Testgenauigkeit vorgesehen. Dies sind Chip-Erhitzung, Spannungs bouncing, Loop-Test, einstellbare Timing-Parameter (ausgewählt), änderbarer Refresh-Modus und Zyklus, Refresh Test, sowie Adress- und RAS / CAS-Test. Der SP3000 unterstützt auch Module mit Parity und ECC bits. Für DDR1, DDR2 und DDR3 Tests bieten die CST SP3000 DDR, DDR2 und DDR3 Tester die Möglichkeit, die Cas Latency, Trcd, Trp einschließlich der Burst Length Einstellung anzupassen.

Einfach zu bedienen:
Die Konfiguration des Moduls einschließlich der Zugriffszeit wird durch Drücken einer einzigen Taste erkannt. Diese automatische Identifizierungsfunktion hilft Benutzern unbekannte Module schnell zu identifizieren. Die fehlerhaften Datenbits werden dann nach der Beendigung des Tests auf dem LCD-Display angezeigt. Durch den Anschluss eines Druckers an die parallele Schnittstelle haben Sie die Möglichkeit den Prüfbericht auszudrucken.

Allzwecktester:
Dieser tragbare Memory Tester ist für alle Situationen entwickelt. Im Bürobereich schließen Sie ihn einfach an die Netzversorgung an. Für den Serientest ist es die ideale Lösung, wenn der SP3000 in Verbindung mit dem CST RoboFlex-II Automatic DIMM / SODIMM Handler eingesetzt wird. In allen Fällen kann der SP3000 zur Steuerung oder zum Firmware Update über RS-232 an einen Computer angeschlossen werden.

Testbarkeit:
Der SP3000 Memory Tester verfügt über eine universelle Basis-Plattform mit einem leicht zu lesenden LCD-Display für die Fehleranzeige, 5 Tasten für die Auswahl der verschiedenen Testfunktionen und ein universelles 110V/230V Netzteil.
Die flexible modulare Architektur des Testers macht es Ihnen leicht, eine Vielzahl von Speichermodulen (DDR3, DDR2, DDR, SDRAM, SGRAM, DRAM SIMM, EDO DIMM, SODIMM-Module, PCMCIA-Speicherkarten und Speicher-Chips) auf der gleichen Basisstation mit erschwinglichen optionalen Adaptern zu testen.

Produktdatenblätter: