Die FADOS Testsysteme haben auch die Jury beim Industriepreis 2015 überzeugt und sind für ihre innovative Technologie ausgezeichnet worden!
V/I Tester (Analoge Signaturanalyse)
Wie funktioniert die Analoge Signaturanalyse / Knotenimpedanzanalyse?
Die Vergleichsmöglichkeit der Analogen Signaturanalyse (ASA) ist eine sehr effektive Methode zur Fehlersuche auf Leiterplatten oder in anderen elektrischen und elektronischen Schaltungen. Selbsterklärend und ohne Detailkenntnisse der fehlerhaften Schaltung ist eine Fehlersuche mit ASA auch ohne Schaltplan möglich. Dies macht die FADOS7F1 und FADOS9F1 aus dem Hause ProT Ar-Ge zu einem unverzichtbaren Werkzeug für alle Einsatzgebiete. Die kleinen handlichen Geräte benötigen lediglich einen Laptop PC für den Betrieb.
Die effektive ASA Testmethode benötigt zur Fehlersuche keine Versorgungsspannung am Prüfling. Es wird eine sinusförmige Wechselspannung mit Strombegrenzung über zwei Leitungen an eine Platine (oder an ein einzelnes Bauteil) angelegt. Die resultierende “Signatur” wird als Spannungs-Stromdiagramm (vertikale Ablenkung Strom und horizontale Ablenkung Spannung) dargestellt. Diese typische Signatur an einem Verbindungspunkt einer Schaltung gibt bei einem Vergleich mit einer bekannt funktionsfähigen Platine eine zuverlässige Information, ob an dem analysierten Punkt Probleme durch ein defektes Bauteil oder eine fehlende Verbindung vorhanden sind.
Wenn zu hoher Stromfluss oder ein Kurzschluss beim Einschalten Sicherungen auslösen und somit eine herkömmliche Fehlersuche unmöglich machen, sind FADOS-Systeme das ideale Instrument. Durch den Einsatz eines FADOS-Systems können weitere Schäden an elektronischen Schaltungen verhindert sowie die Fehlerursache gefunden und behoben werden.
Anders als bei einem ICT oder speziellem Funktionstest mit einem enormen Aufwand an Programmierzeit und Adapterkosten können sie mit einem FADOS-System sofort mit der Fehlersuche beginnen. Speziell für Kleinserien ist ein FADOS-System eine optimale Ergänzung der Messmittel in Reparaturabteilungen.